在工业 4.0 的智能制造崛起的时代背景下，科学技术的高速发展，使电子设备功能越来越强大，越来越智能化。而随着电子信号的复杂多变，电子测量仪器对电子设备进行测试时所花费的时间也不断增多，为提高测试效率，仪器程控测试方法应运而生。利用计算机对电子测量仪器和被测电子设备进行控制、测量和输出测量结果，使程序控制越来越智能方便。

仪器程控软件的研发为更多的工程师带来了作业方式的变革，作为一款专为电子制造业打造的先进数据分析控制的方案系统。天宇微纳程控软件改变了测试和测量数据在产品开发周期中的共享方式。借助CVI/Labview的开发平台，为设计、测试和制造团队的管理者和领导者提供远程操控的分析解决方案。能够利用原数据、测量数据和环境数据进行高级分析，从而促进制造环节的改进和效率的提升。程控系统的先进算法，执行的大量数据分析，让您实时洞察和了解产品的制造合格率、性能质量和设备动态。

现有的程控测试方法通常是通过标准的接口总线和接口总线电缆进行连接，整个测试过程都是在预先编制好的测试程序统一控制下自动完成的，具有高速度、高精度、多参数等特点。仪器程控系统可以对万用数字表、示波器、电源等终端进行程控，进行密集的数据挖掘、数据搜索和多层次的深入分析，可将虚拟化的数据转化为一目了然的报告面板，在市场上具有很强的适应性。

仪器程控软件系统为那些一次要控制多台仪器的工程师或需要远程控制操作现场的高辐射设备的企业提供了方便、安全、有效的解决方案。仪器程控不仅仅是提高工作的便捷性，更是通过程序控制软件来提升办事效率。天宇微纳研发的仪器程控软件可以帮助客户深入优化数据，提供全方位的测试与分析的程控方案，进而实现电子仪器设备以更快的速度被应用于智能化工厂之中。

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